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    國(guó)內(nèi)外led相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)狀,led行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
    瀏覽量:187 | 回復(fù):1 | 發(fā)布時(shí)間:2008-09-09 12:16:44
    1. 國(guó)外led相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)狀,LED標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)狀,led國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)狀--led行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

      嚴(yán)格地講,不僅僅國(guó)內(nèi)沒(méi)有沒(méi)有專門(mén)命名為半導(dǎo)體照明的標(biāo)準(zhǔn),國(guó)外目前也沒(méi)有專門(mén)命名為半導(dǎo)體照明的標(biāo)準(zhǔn),只有有關(guān)普通 LED的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和與普通光源有關(guān)的照明方面的標(biāo)準(zhǔn)。普通LED的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)有:

    ( 1)IEC60747-5 Semiconductor devices Discrete devices and integrated circuits(1992)

    IEC60747-5半導(dǎo)體分立器件及集成電路

    ( 2)IEC60747-5-2 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-2:Optoelectronic devices-Essential ratings and characteristics (1997-09)

    IEC60747-5-2分立半導(dǎo)體器件及集成電路零部件5-2:光電子器件—分類特征及要素(1997-09)

    ( 3)IEC60747-5-3 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-3 :Optoelectronic devices-Measuring methods(1997-08)

    IEC60747-5-3分立半導(dǎo)體器件及集成電路

    零部件 5-3:光電子器件—測(cè)試方法(1997-08)

    ( 4)IEC60747-12-3 Semiconductor devices-part12-3: optoelectronic devices –Blank detail specification for light-emitting diodes –Display application(1998-02)

    IEC60747-12-3半導(dǎo)體分立器件12-3:光電子器件—顯示用發(fā)光二極管空白詳細(xì)標(biāo)準(zhǔn)(1998-02)

    ( 5)CIE127-1997 Measurement of LEDs(1997)

    CIE127-1997 LED測(cè)試方法(1997)

    ( 6) CIE/ISO standards on LED intensity measurements

    CIE/ISO LED強(qiáng)度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

      國(guó)際照明委員會(huì)( CIE)1997年發(fā)表 CIE127-1997 LED測(cè)試方法 , 把 LED 強(qiáng)度測(cè)試確定為平均強(qiáng)度的概念,并且規(guī)定了統(tǒng)一的測(cè)試結(jié)構(gòu)和探測(cè)器大小,這樣就為 LED 準(zhǔn)確測(cè)試比對(duì)奠定了基礎(chǔ)。雖然CIE 127-1997 測(cè)試方法 并非國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),但它容易實(shí)施準(zhǔn)確測(cè)試比對(duì),目前世界上主要企業(yè)都已采用。 但是隨著技術(shù)的快速發(fā)展,許多新的 LED技術(shù)特性 CIE127-1997 LED測(cè)試方法 沒(méi)有涉及。

      目前,隨著半導(dǎo)體照明產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展,發(fā)達(dá)國(guó)家非常重視 LED測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的制訂。如美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)研究所(NIST)正在開(kāi)展LED測(cè)試方法的研究,準(zhǔn)備建立整套的LED測(cè)試方法和標(biāo)準(zhǔn)。同時(shí),許多國(guó)外大公司的研究和開(kāi)發(fā)人員正在積極參與國(guó)家和國(guó)際專業(yè)化組織,制訂半導(dǎo)體照明測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。如2002年10月28日,美國(guó)Lumileds公司和日本Nichia宣布雙方進(jìn)行各自LED技術(shù)的交叉授權(quán),并準(zhǔn)備聯(lián)合制訂功率型LED標(biāo)準(zhǔn),以推動(dòng)市場(chǎng)應(yīng)用。
    關(guān) 注 (0
    評(píng) 論(1)
    分 享
    梁登欽

    2. 國(guó)內(nèi)LED相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)狀--led國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)   國(guó)內(nèi)目前沒(méi)有較全面的 LED及其照明器具國(guó)家和led行業(yè)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),也沒(méi)有相應(yīng)的檢測(cè)系統(tǒng)。在生產(chǎn)中企業(yè)往往以樣管封存的參數(shù)為對(duì)比依據(jù)。不同性質(zhì)的相關(guān)生產(chǎn)廠家、用戶、研究所、高校經(jīng)常對(duì)此存在很大的爭(zhēng)議,這種在學(xué)術(shù)界內(nèi)部、企業(yè)界內(nèi)部及相互之間對(duì)標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)識(shí)的不一致嚴(yán)重阻礙了產(chǎn)品的應(yīng)用和產(chǎn)業(yè)化的發(fā)展。雖然有一些企業(yè)和研究機(jī)構(gòu)采購(gòu)了部分檢測(cè)設(shè)備,由于缺少專業(yè)的研究,導(dǎo)致設(shè)備水平低、儀器配套性差、檢測(cè)精度低,而且檢測(cè)結(jié)果相互之間不好對(duì)比,測(cè)試項(xiàng)目不能滿足用戶需要。國(guó)內(nèi)專業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)曾經(jīng)開(kāi)展過(guò)一些 LED的測(cè)試研究工作,但由于條件所限,尚不能形成完整的檢測(cè)評(píng)價(jià)系統(tǒng),檢測(cè)水平與國(guó)外發(fā)達(dá)國(guó)家有較大差距。   從八十年代初起,我國(guó)相繼制定了一些與發(fā)光二極管相關(guān)的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。 國(guó)內(nèi)現(xiàn)有與 LED測(cè)試有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)有: ( 1) Sj2353.3-83半導(dǎo)體發(fā)光二極管測(cè)試方法 ( 2) Sj2658-86 半導(dǎo)體紅外發(fā)光二極管測(cè)試方法 ( 3)GB/T12561—1990發(fā)光二極管空白詳細(xì)規(guī)范 ( 4)GB/T15651-1995半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路:光電子器件(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)) ( 5)GB/T18904.3—2002半導(dǎo)體器件12-3:光電子器件顯示用發(fā)光二極管空白詳細(xì)規(guī)范(采用IEC60747-12-3:1998) ( 6) 半導(dǎo)體分立器件和集成電路第 5 - 2 部分:光電子器件基本額定值和特性(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn);制訂中) ( 7)半導(dǎo)體分立器件和集成電路第 5 - 3 部分:光電子器件測(cè)試方法(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn);制訂中) ( 8) 半導(dǎo)體發(fā)光二極管測(cè)試方法(中國(guó)光協(xié)光電器件分會(huì)標(biāo)準(zhǔn); 2002

    2008-09-09 12:17:02
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    回復(fù):0 | 發(fā)布時(shí)間:2009-06-29 16:37:49
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    邢智強(qiáng)
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